Measurements of K- Shell X-Ray Cross-Section and Fluorescence Yields Using Secondary Source for Some Elements in the Atomic Number Range 22≤z≤35

Abstract

Bu çalışmada, Am-241 radyoizotop nokta kaynağından yayımlanan 59.5keV'luk γ-ışınları, ikincil kaynağı uyarmak için kullanıldı. İkincil kaynaktan yayımlanan 11.372keV enerjideki karakteristik X-ışınları kullanılarak atom numarası 22≤Z≤35 arasında olan 23V, 24Cr, 26Fe, 27Co, 28Ni 31Ga ve 33As elementlerinin Kα, ve Kβ X-ışını Flüoresans tesir kesitleri ölçüldü. Numunelerin uyarılması sonucu K tabakalarından yayımlanan K X-ışınlarının sayılmasında rezolüsyonu 5,9 keV'ta 160 keV olan Si(Li) katı hal dedektörü kullanıldı. Elde edilen tesir kesitlerinden K tabakasına ait flüoresans verimleri yarı deneysel olarak tespit edildi. İkincil kaynak kullanmanın yararları gözlendi. Elde edilen değerler literatürdeki benzer çalışmalarla karşılaştırıldı.

In this study, γ-beams of 59.5 keV radiating from an Am-241 radioisotope point source were used to excite secondary source. K X-ray fluorescence cross sections of, Kα, Kβ, of 23V,24Cr, 26Fe, 27Co,28Ni 31Ga ve 33As elements whose atom numbers in the range of 22 ≤ Z ≤ 35 were measured by using characteristic X-ray is emitted from secondary sources were in an energy 11.372keV. A Si(Li) solid-state detector with 160 keV resolution at 5.9 keV was used to count K X-rays radiating from K layers as a result of excitation of samples. Fluorescence yields of K shells of the elements were determined by semi-empirical methods with the help of fluorescence cross sections. The benefits of using secondary sources were observed. Obtained values were compared with similar studies in the literature.